ASTM F671-1999 硅晶片及其他电子材料的平面长度测量的试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 23:43:17 浏览:9086
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatLengthonWafersofSiliconandOtherElectronicMaterials
【原文标准名称】:硅晶片及其他电子材料的平面长度测量的试验方法
【标准号】:ASTMF671-1999
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料;电子工程;长度;垫圈;测量
【英文主题词】:flats;opticalcomparator;orientationflats;semiconductor;silicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoverstechniquesfordeterminationofthelengthoftheflattedportionofawaferperiphery.1.2Thistestmethodisintendedprimarilyforuseonelect
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:硅晶片及其他电子材料的平面长度测量的试验方法
【标准号】:ASTMF671-1999
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:材料;电子工程;长度;垫圈;测量
【英文主题词】:flats;opticalcomparator;orientationflats;semiconductor;silicon
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoverstechniquesfordeterminationofthelengthoftheflattedportionofawaferperiphery.1.2Thistestmethodisintendedprimarilyforuseonelect
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
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