NF C96-005-3/A1-2002 分立半导体装置和集成电路.第5-3部分:光电子装置.测量方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 23:59:52  浏览:9219   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Partie5-3:optoelectronicdevices-Measuringmethods.
【原文标准名称】:分立半导体装置和集成电路.第5-3部分:光电子装置.测量方法
【标准号】:NFC96-005-3/A1-2002
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2002-12-01
【实施或试行日期】:2002-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:二极管;半导体器件;电子设备及元件;暗电流;光耦合器;光电二极管;频带宽度;集成电路;显示装置;测量技术;电性质和电现象;绝缘电阻;发光强度;绝缘测试;分立器件;光电子器件;试验;辐射强度
【英文主题词】:Bandwidths;Darkcurrent;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Luminousintensity;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Photocouplers;Photodiodes;Radiantintensity;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:15P.;A4
【正文语种】:其他