ASTM E 2245-2005 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-09 07:02:32  浏览:8586   来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodforResidualStrainMeasurementsofThin,ReflectingFilmsUsinganOpticalInterferometer
【原文标准名称】:用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
【标准号】:ASTME2245-2005
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2005
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:影片;干涉仪;光学的;摄影;残留物;应变测量;薄膜
【英文主题词】:Films;Interferometers;Optical;Photography;Residues;Strainmeasurement;Thinfilms
【摘要】:
【中国标准分类号】:N50
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语